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        TEM用 矽飄移式能量分散式光譜儀 (Ultim Max TEM 系列)


        型號:Xplore Ultim Max TEM TLE
        規格:
        技術文件:尚未上傳
        廠商:Oxford

               現代TEM EDS分析除了一般常規元素分析外,更因各式高解析TEM(如Cs TEM) 的來臨,將微區分析帶入原子尺度,在此極致解析度下通常使用低電流模式,因此更需要大立體角的偵測面積。

               本系列比上一代的X-MaxN 系列優化立體角及電子線路,感度提升並且更適合In-situ 臨場實驗,即使在高溫實驗中,仍可偵測EDS光譜訊號

        * Xplore TEM-80mm

               常規 TEM 應用

        * Ultim Max TEM-80mm2  Windowless

               200KV FE-TEM 大立體角高效率分析機種,輕元素分析加強版

        * Ultim Max TLE-100mm2  Windowless

               Cs FEG TEM 超高收集效率, 原子級微區分析能力, 輕元素分析加強版



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