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        電熱臨場實驗TEM 樣品桿


        型號:Fusion Select
        規格:MEMS chip
        技術文件:尚未上傳
        廠商:Protochips

        TEM電熱的動態觀察實驗中,在加熱的部份,傳統樣品桿利用Furnace 加熱樣品,會有下列缺點:

        • 升降溫速度不夠快。
        • 樣品與furnace之間因熱傳導的關係,溫度有較大落差。
        • 若操作不當,可能造成樣品融熔溢流而沾黏底座。
        • 升溫時造成的嚴重熱飄移問題。

         


        Fusion Select 電熱臨場實驗TEM 樣品桿採用先進的微機電(MEMS)技術,根據不同實驗需求,可更換不同E-chip™晶片,其特色如下:

        • 升降溫精準快速
        • 低飄移、適合高解析影像。
        • 溫度範圍: RT to 1200oC
        • 六組探針可提供加熱與四點探針電性分析
        • EDS/EELS 分析相容優化設計,
        • 入門級(單傾斜/加熱型)樣品桿可輕易升級為雙傾斜、電熱同步等高階樣品桿
        • 提供Thermal、Electric及Electrothermal三種類型晶片,並有不同 Pattern 樣式供選擇。

         



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        美國tousimis 公司
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        日本 Micro Support 公司
        美國Protochips公司

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